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型號(hào):XTD

PCB鍍層厚度熒光光譜儀

描述:PCB鍍層厚度熒光光譜儀是一款功能強(qiáng)大的X熒光光譜儀。它綜合了儀器的常規(guī)測(cè)試(普通模式)和*的光路系統(tǒng)測(cè)試 (超銳模式),普通模式能完成全元素,貴金屬,RoHS,鍍層等常規(guī)測(cè)試,超銳模式能對(duì)客戶比較關(guān)心的低含量元素進(jìn)行更的測(cè)試。主要是使用天瑞儀器*超銳光路系統(tǒng),降低儀器的背景噪音,提高儀器的檢出能力,從而提高儀器的整體檢測(cè)性能。

  • 廠商性質(zhì)

    經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間

    2024-04-27
  • 訪問(wèn)量

    860
詳細(xì)介紹
品牌其他品牌價(jià)格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,印刷包裝

PCB鍍層厚度熒光光譜儀技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U) 
可進(jìn)行測(cè)試模式之間的轉(zhuǎn)換,提高測(cè)試的效率 
可對(duì)10個(gè)樣品進(jìn)行自動(dòng)切換測(cè)試 
一次可同時(shí)分析多幾十種元素 
分析檢出限可達(dá)0.1ppm
分析含量一般為0.1ppm到99.9% 
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型 
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型 
多變量非線性回收程序 
長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為0.1% 
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃ 
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

 

標(biāo)準(zhǔn)配置

超銳X光源和樣品激發(fā)機(jī)構(gòu) 
上蓋電動(dòng)開關(guān)的大容量樣品腔 
可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直器,濾光片 
高清晰CCD攝像頭 
SDD探測(cè)器 
數(shù)字多道采集處理系統(tǒng) 
高低壓電源 
進(jìn)口400W端窗光管油冷散熱系統(tǒng),具有自動(dòng)控溫功能
樣品自動(dòng)切換系統(tǒng) 
全自動(dòng)真空系統(tǒng) 
專業(yè)X熒光分析軟件 
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī) 
外觀尺寸: 752(W)x759(L)x 988(H)
樣品腔尺寸:¢376×50 mm 
重量:小于250Kg

 

PCB鍍層厚度熒光光譜儀性能特點(diǎn)

特殊光路系統(tǒng) 
采用特殊的光路系統(tǒng),可滿足不同基體中痕量元素的測(cè)量,提高信噪比,降低檢出限。

400W大功率X光源 
400W大功率光源使難以激發(fā)的痕量元素獲得更高的計(jì)數(shù)率,比普通EDXRF儀器的元素檢出限降低一個(gè)數(shù)量級(jí),更加適合痕量元素的檢測(cè)。

數(shù)字多道技術(shù) 
采用新數(shù)字多道技術(shù),儀器可探測(cè)的計(jì)數(shù)率可高至100kcps,提高了儀器的測(cè)量精度,縮短了測(cè)量時(shí)間。

油冷散熱系統(tǒng) 
油冷散熱系統(tǒng),保證了大功率X光源的散熱,使儀器的運(yùn)行更加穩(wěn)定。

光閘系統(tǒng) 
光閘系統(tǒng),保證X光源的穩(wěn)定性,同時(shí)提升X光管使用壽命。

抽真空系統(tǒng) 
抽真空系統(tǒng),可以滿足輕元素的測(cè)量。

自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng) 
自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng),可以一次連續(xù)檢測(cè)十二個(gè)樣品,大大提高了測(cè)試人員的工作效率。


 

側(cè)試模式

普通模式:為普通儀器的常規(guī)測(cè)試。

超銳模式:使用*超銳光路系統(tǒng),使用的原理主要能實(shí)現(xiàn)兩大功能,降低背景,提高檢出能力。

 

一、如圖一所示,下圖為測(cè)土壤中的V(綠)和Cr(紅)。實(shí)譜為超銳模式,測(cè)得的譜圖,紅色虛譜為普通模式譜圖。由圖可看出,對(duì)于關(guān)注元素。超銳模式明顯出峰,而普通模式幾乎沒有出峰。


 

二、下圖二所示,為測(cè)土壤中的Zr,實(shí)譜為超銳模式所測(cè)譜圖,紅色虛譜為普通模式所測(cè)譜圖。超銳模式所測(cè)得的Zr有效峰背比強(qiáng)度為210.05。普通模式所測(cè)得的Zr在相同測(cè)試條件下有效峰背比強(qiáng)度為155.72。由圖可以看出超銳模式比普通模式出峰要好,而且超銳模式降低了背景。


 

從以上譜圖一可以看出,我們?cè)谶M(jìn)行常規(guī)測(cè)試時(shí)。由于土壤中的V、Cr含量低。是無(wú)法檢測(cè)出其含量的。譜圖二中,雖然Zr能檢測(cè)出峰,但是其背景也比較高,對(duì)測(cè)試的結(jié)構(gòu)影響比較大。而在使用天瑞儀器*超銳光路系統(tǒng),能降低背景,檢測(cè)出低含量的元素,提高儀器的檢出能力。從而提高儀器的整體測(cè)試效果。

 


應(yīng)用領(lǐng)域

 

PCB鍍層厚度熒光光譜儀不僅可滿足中心實(shí)驗(yàn)室和分包實(shí)驗(yàn)室的分析需要,而且適用于環(huán)境監(jiān)測(cè)、化工、采礦、鑒定、食品、電子、水泥和冶金行業(yè)


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